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测厚仪 >> 测厚仪 >> 涂层测厚仪(镀层.覆层).铜箔测厚仪
产品介绍  
测头主机一体,结构紧凑,单手操作;最新研制的测头顶部由非常耐磨的硬制材料制成,保证长期使用而不损坏。标准箔及标准板可安全地存放在内置储存仓内。

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概况

测头主机一体,结构紧凑,单手操作;最新研制的测头顶部由非常耐磨的硬制材料制成,保证长期使用而不损坏。标准箔及标准板可安全地存放在内置储存仓内。

仪器随测头型号的不同有三种类型:

F型测头采用磁感应原理,在钢铁基材上测量。

N型测头采用电涡流原理,在有色金属基材测量。

FN两用型测头可在所有金属基材上测量。

仪器符合DIN、ISO、BS、ASTM标准。

 

基本参数

测量范围:F型0-3000μm;N型0-2000μm;FN两用型0-2000μm

读值精度:±(2μm+3%读值)

低端分辨率:0.1μm

最小曲率半径:5mm(凸),25mm(凹,分体式),35mm(凹,一体式)

最小测量区直径:20mm

最小测量基体厚度:0.5mm(对F型),50μm(对N型)

显示:4位液晶显示

测量单位:μm/mils可选

校准方式:标准,一点校准,二点校准

统计数据:s,n(最多可达90个读值)单值/批量

接口:RS-232

电源:2节碱性电池,至少测量1万次

仪器尺寸:165mm×44mm×38mm

仪器重量: 200g

操作温度:0-50℃

 eXacto-F
测量原理
测量范围
测量精度
待测基体最小曲率半径(mm)
基体最小面积的直径(mm)
低限分辨力(μm)
示值误差(μm)
 
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