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CM90:薄膜测厚仪,精度0.1um. 薄膜测厚仪,膜厚仪,膜厚测试仪,纸张测厚仪
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测厚仪 >> 测厚仪 >> 测厚仪.超声波测厚仪.涂层测厚仪.薄膜测厚仪.橡胶测厚仪.
产品介绍  
CM90,是的薄膜测厚仪.
1.可以检测,塑料薄膜,薄片,隔膜,纸张,箔片,硅片
2.精度可以达到0.1um.
3.实时显示测量结果的最大值,最小值,平均值以及标准偏差等数据.
4.数字显示,也可以加配电脑,做分析用.
5.可以自动进样,每隔一定距离自动采点.
测试范围: 0-2mm(常规), 0-6mm;12 mm(可选)
分辨率: 0.1um
测量速度: 10次/min,可调
测量压力: 17.5±1 KPa(薄膜), 50±1 KPa(纸张)
接触面积: 50mm2(薄膜), 200mm2(纸张)
接触面积: 备注,薄膜,纸张任选一种,非标可定制
进样步距: 0 - 1000mm
国际标准:满足ISO,GB,ASTM等十多个国标标准.
电话咨询热线:
021-6573 0171多种规格参数,请拨打咨询热线
留言咨询服务:(适用于午休和夜间、习惯留言咨询的客户)
联系人
电话:
邮箱:
内容:

CM90 测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度准确测量。

该设备满足多项国家和国际标准:ISO 4593ISO 534ISO 3034GB/T 6672GB/T 451.3 GB/T 6547ASTM D374ASTM D1777TAPPI T411JIS K6250JIS K6783JIS Z1702 BS 3983BS 4817

适用于薄膜、薄片、隔膜,纸张、纸板,箔片、硅片,金属片,纺织材料,固体电绝缘体,无纺布材料,如尿不湿、卫生巾片材等。

扩展应用(需特殊附件或改制)量程扩展至5mm10mm,适用于测试薄膜、片材的厚度曲面测量头,满足特殊场合的厚度测试。

 

产品特点

·严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制

·测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差

·支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择

·系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定

·实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断

·配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性

·系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果

·系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看

·标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输

·支持Lystem™实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告

 

技术参数

测试范围:0~2 mm(常规);0~6 mm12 mm(可选)

分辨率:0.1μm

测量速度:10 /min (可调)

测量压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)

接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制

进样步距:0~1000 mm

进样速度:0.1~99.9 mm/s

电源:AC  220V  50Hz

外形尺寸:461×334×357mm

净重:32 kg

 

标准配置:主机、标准量块一件

选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码

 

 

 CM90:薄膜测厚仪,精度0.1um.
 
或电话:
021-65730171
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